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顆粒測(cè)試基本知識(shí)-常見(jiàn)粒度測(cè)試方法

更新時(shí)間:2020-08-25 點(diǎn)擊次數(shù):3930

顆粒測(cè)試基本知識(shí)--頻率分布和累積分布的作用

頻率分布又叫區(qū)間分布或微分分布,指兩個(gè)粒徑之間顆粒占總量的百分比。累積分布又叫積分分布,指小于(或大于)某粒徑的顆粒占總量百分?jǐn)?shù),它是由頻率分布累加得到的。

 

常用的粒度測(cè)試方法有:

1. 激光散射法(毫米、微米、納米)

2. 動(dòng)態(tài)光散射法(納 米)

3. 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法(微米、粒度和粒形)

4. 重力和離心沉降法(微米 / 納米)

5. 庫(kù)爾特(電阻)法(微米)

6. 電鏡法(微米、納米)

7. 超聲波法(微米)

8. 透氣法(微米平均粒度)

9. 篩分法(大于 38 微米)等。

 

目前是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

 

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